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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

高溫柵反偏老化測試系統(tǒng)(單管、Ta型、電子開關(guān)保護(hù))

符合標(biāo)準(zhǔn):

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的場效應(yīng)管、IGBT單管等器件進(jìn)行高溫柵極反偏試驗(yàn)。

技術(shù)特點(diǎn):

實(shí)時(shí)監(jiān)測每個(gè)試驗(yàn)器件的漏電流,漏電流最小監(jiān)控值1nA。

每個(gè)回路漏電流超上限電子開關(guān)斷電保護(hù)。

全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術(shù)性能

表格 p18.png