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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

高溫反偏老化測試系統(tǒng)(單管、TJ型、電子開關(guān)保護(hù))

符合標(biāo)準(zhǔn):

AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場效應(yīng)管、可控硅、IGBT單管等器件進(jìn)行高溫反偏試驗(HTRB)和高溫漏流測試(HTIR)。

技術(shù)特點(diǎn):

可實(shí)時監(jiān)測每個的結(jié)溫TJ。

實(shí)時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流。

每個回路漏電流超上限電子開關(guān)斷電保護(hù)。

全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術(shù)性能

表格 p16.png